【摘要】目的：分析头颅磁共振成像（MRI）在脑损伤早产儿神经发育异常中的应用价值。方法：选取 2021 年 1 月—2023 年 9 月苏州大学 附属儿童医院收治的 250 例早产儿为研究对象，根据头颅 MRI 检查结果分为脑损伤组（65 例）和非脑损伤组（185 例），比较两组患儿额叶、 背侧丘脑、基底叶和放射冠 ADC 以及神经发育成熟度、矫正胎龄至 3 个月时新生儿神经行为测定（NBNA）量表和格塞尔发育（Gesell）量 表评分，分析 ADC 和神经发育成熟度与 NBNA 和 Gesell 评分的相关性。结果：脑损伤组患儿额叶、背侧丘脑、基底叶及放射冠 ADC 均高 于非脑损伤组，差异有统计学意义（P ＜ 0.05），髓鞘化、皮质卷曲、胶质细胞迁移带及胚芽基质残余评分以及 NBNA 和 Gesell 评分均低 于非脑损伤组，差异有统计学意义（P ＜ 0.05）。Pearson 相关性分析结果显示，ADC 与 NBNA 和 Gesell 评分均呈负相关性（P ＜ 0.05）， 神经发育成熟度总分与 NBNA 和 Gesell 评分均呈正相关性（P ＜ 0.05）。结论：头颅 MRI 可在一定程度上提示脑损伤早产儿后期神经发育 情况，有助于脑损伤早产儿神经发育异常的早期诊断。 

【关键词】早产儿；脑损伤；神经发育；磁共振；表观弥散系数；神经行为